JTAG信號(hào)完整性測(cè)試,接口一致性檢測(cè),交叉電壓范圍測(cè)試,jtag測(cè)試,電源完整性測(cè)試


1.3 JTAG 系統(tǒng)內(nèi)部構(gòu)造
JTAG 系統(tǒng)內(nèi)部*****基本的單元是邊界掃描單元（其掃描獲取的值存在邊界掃描寄存器 BSR（Boundary Scan Register）中），每個(gè)邊界掃描單元都位于目標(biāo)器件的邊界上，很多時(shí)候 JTAG 測(cè)試也被稱為邊界掃描。
所有目標(biāo)器件核心邏輯與針腳之間的信號(hào)都會(huì)被串聯(lián)的邊界掃描單元所攔截。正常運(yùn)行時(shí)，這些邊界掃描單元是不可見的。在測(cè)試模式下這些單元可以被用來(lái)設(shè)置/讀取目標(biāo)器件針腳或核心邏輯的值。
除了上述 BSR 之外，JTAG 系統(tǒng)還需要以下 3 個(gè)寄存器：



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